透射电镜 (Transmission Electron Mi croscope , TEM) , 全称透射电子显微镜 , 是把经加速和聚集的电子束投射到超薄切片的样品上 (通常70-90nm) , 电子与样品中的原子碰撞而改变方向 , 从而产生立体角散射。散射 角的大小与样品的密度、 厚度相关 , 因此可以形成明暗不同的影像, 影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示 出来。是种高分辨率 (0.1nm- 0 . 2nm) 、 高放大倍数 (0 . 2K- 600K) 的显微镜。 是观察和研究物质超微结构的 强有力工具。